電子元器件恒溫恒濕老化箱，加速壽命測試

電子元器件恒溫恒濕老化箱，加速壽命測試

產品詳情
本設備是專為電子元器件、PCB電路板、IC芯片等產品進行可靠性評估與壽命測試而設計的高精密恒溫恒濕老化箱。它通過模擬嚴苛的環境應力，在受控的溫濕度條件下對試樣進行長時間連續測試，是產品質量控制、性能提升及新品研發關鍵設備。

核心用途
主要用于各類電子元器件的加速壽命老化試驗、高溫高濕環境適應性測試、長期存儲穩定性試驗以及失效分析。通過施加遠高于正常水平的溫濕度應力，快速激發潛在缺陷，提前暴露產品在設計和工藝上的薄弱環節，從而大幅縮短產品研發周期，提升出廠產品的可靠性和批次一致性。

電子元器件恒溫恒濕老化箱，加速壽命測試

技術參數

• 溫度范圍：-70℃ ~ +150℃（或根據需求定制）

• 濕度范圍：20% ~ 98% R.H.

• 控制精度：溫度±0.3℃，濕度±2% R.H.

• 升溫/降溫速率：約1~3℃/min（線性或非線性可訂制）

• 內箱材質：采用SUS304#不銹鋼板，耐腐蝕、易清潔

產品特點
設備采用彩色觸摸屏人機界面，操作直觀簡便，可存儲上百組試驗程序；配備USB接口，輕松實現數據記錄與導出功能。箱門配備大型雙層鋼化玻璃觀察窗，并內置節能LED照明燈，便于在試驗過程中清晰觀察箱內樣品狀態。

風道系統
采用設計的強制式水平送風循環系統，搭配大功率離心風機及特殊設計的多面出風風道。能確保工作室內部溫濕度的高度均勻性和穩定性，避免任何測試死角，保證每一樣品都處于同一測試環境，確保數據的準確性與可比性。

設備亮點
內置多項智能安全保護系統，包括壓縮機超壓/過載保護、箱內超溫保護、風機過流保護、缺水保護及漏電保護等，并設有獨立的極限超溫防止器，為長時間無人值守的可靠性試驗提供安全保障，杜絕意外發生。

核心優勢
相較于通用型設備，本老化箱在溫濕度控制的精確性、長期運行的穩定性和安全性方面表現尤為突出。其高效的測試效率能幫助企業大幅降低售后維修成本，提升品牌信譽，是構建產品高質量與高可靠性的強大后盾。