高低溫試驗箱 半導體元件溫變測試儀器

高低溫試驗箱 半導體元件溫變測試儀器

產品概述

高低溫試驗箱是專用于半導體元件溫變測試的高精度環(huán)境模擬設備，可復現高低溫交替環(huán)境，驗證元器件在溫度快速變化條件下的可靠性及性能穩(wěn)定性。

產品用途

主要用于半導體芯片、集成電路、傳感器、電子模組等產品的溫度循環(huán)測試（如高低溫沖擊試驗、恒溫恒濕測試）、失效分析、壽命評估及質量控制，適用于研發(fā)、中試及大規(guī)模生產檢測環(huán)節(jié)。

高低溫試驗箱 半導體元件溫變測試儀器

產品特點

• 寬溫域覆蓋：支持-70℃至+150℃（可擴展）的溫度范圍；

• 高變溫速率：升溫/降溫速率可達15℃/min以上，支持快速溫變測試；

• 多段編程控制：可設定復雜溫度曲線，模擬實際應用場景；

• 均勻溫場：強制對流設計確保箱內溫度分布均勻性≤±0.5℃；

• 半導體專用夾具：適配多種封裝形式的元件，避免機械應力干擾。

工作原理

通過壓縮機制冷系統與高效電加熱系統協同工作，實現箱內溫度的快速升降。控制系統根據預設程序調節(jié)冷熱輸出功率，并通過高精度傳感器實時反饋數據，實現閉環(huán)動態(tài)調溫，模擬溫度沖擊或漸變環(huán)境。

設備亮點

• 采用環(huán)保制冷劑及高效隔熱結構，節(jié)能且符合RoHS標準；

• 具備多重安全保護（過熱保護、電流過載保護、故障自診斷）；

• 支持遠程監(jiān)控與數據導出，兼容MES/QMS系統集成。

優(yōu)勢

1. 高可靠性：長期連續(xù)運行穩(wěn)定，適合7×24小時無人值守測試；

2. 精準控制：PID智能算法確保溫度波動≤±0.3℃；

3. 模塊化設計：維護便捷，核心部件（壓縮機、冷凝器）可快速更換；

4. 符合MIL-STD-883J、JESD22-A104等半導體測試標準。

注意事項

• 避免測試樣品揮發(fā)腐蝕性物質，以防損傷箱體管路；

• 定期清理冷凝器濾網，保持散熱效率；

• 需使用穩(wěn)定電源（建議加裝穩(wěn)壓器），避免電壓波動影響設備壽命；

• 裝載樣品不宜超過箱體容積的2/3，確保氣流循環(huán)通暢。