產品分類

Cassification

恒溫恒濕試驗箱

冷熱溫控試驗箱高低溫恒溫恒濕試驗箱小型恒溫恒濕試驗箱大型恒溫恒濕箱步入式恒溫恒濕試驗箱1 快速溫度變化試驗箱桌上型恒溫恒濕試驗箱恒溫恒濕實驗箱可編程式恒溫恒濕試驗箱可程式恒溫恒濕試驗箱

查看全部產品 >>

相關文章

Articles

產品展示/ Product display

您的位置：首頁 / 產品展示 / 恒溫恒濕試驗箱 / 大型恒溫恒濕箱 / SMA-80PF大型恒溫恒濕試驗箱芯片可靠性測試設備

大型恒溫恒濕試驗箱芯片可靠性測試設備

大型恒溫恒濕試驗箱芯片可靠性測試設備用于驗證芯片在溫濕度條件下的電氣性能穩(wěn)定性；量產環(huán)節(jié)中，對芯片進行批量抽檢，確保產品一致性；汽車電子、航空航天等領域，模擬芯片在復雜環(huán)境中的長期運行狀態(tài)，評估其可靠性與壽命。憑借精準的環(huán)境模擬與可靠的數(shù)據(jù)輸出，該設備有效助力企業(yè)提升芯片產品質量，縮短研發(fā)周期。

產品型號：SMA-80PF
廠商性質：生產廠家
更新時間：2025-08-17
訪問量：458

立即咨詢

聯(lián)系電話：0769-81085056

詳細介紹

大型恒溫恒濕試驗箱芯片可靠性測試設備

一、適配芯片測試的核心結構

設備采用模塊化設計，測試艙體容積可達 1000L 以上，可同時容納多批次芯片樣品及測試板卡。艙內配置防靜電樣品架與專用托盤，避免芯片因靜電吸附灰塵影響測試結果；內膽選用 SUS316L 食品級不銹鋼材質，表面經鏡面拋光處理，有效抑制微粒產生，確保測試環(huán)境潔凈度。此外，設備搭載獨立新風過濾系統(tǒng)，通過 HEPA 高效濾網，持續(xù)過濾艙內空氣，防止雜質沉積影響芯片性能。

大型恒溫恒濕試驗箱芯片可靠性測試設備

大型恒溫恒濕試驗箱芯片可靠性測試設備

二、芯片級精準控溫原理

依托雙級復疊制冷技術與 PID 智能控溫算法，設備實現(xiàn)芯片測試所需的快速升 / 降溫響應。在高溫工況下，采用鎳鉻合金加熱絲配合循環(huán)風道，確保艙內溫度快速均勻分布；低溫環(huán)境中，雙壓縮機交替工作，保障 - 40℃低溫穩(wěn)定輸出。濕度控制方面，超聲波霧化與分子篩除濕雙系統(tǒng)協(xié)同，結合高精度溫濕度傳感器實時反饋，將濕度波動控制在極小范圍，模擬芯片在高濕、低濕環(huán)境下的真實使用場景。

三、芯片測試專屬功能優(yōu)勢

高潔凈環(huán)境保障：艙體內部低塵設計與新風過濾系統(tǒng)，滿足芯片對潔凈度的嚴苛要求，避免外部污染干擾測試結果。

多維度數(shù)據(jù)監(jiān)測：內置多路溫度傳感器與數(shù)據(jù)采集模塊，可實時記錄芯片表面及周邊環(huán)境溫濕度變化，支持曲線導出與對比分析。

快速溫變能力：溫變速率可達 2℃/min，滿足芯片熱應力測試需求，加速暴露潛在缺陷。

智能自動化測試：支持多段程序編輯，可自定義溫濕度循環(huán)曲線，適配芯片加速老化、溫濕度循環(huán)等多種測試標準。

四、芯片可靠性測試應用場景

在芯片研發(fā)階段，用于驗證芯片在溫濕度條件下的電氣性能穩(wěn)定性；量產環(huán)節(jié)中，對芯片進行批量抽檢，確保產品一致性；汽車電子、航空航天等領域，模擬芯片在復雜環(huán)境中的長期運行狀態(tài)，評估其可靠性與壽命。憑借精準的環(huán)境模擬與可靠的數(shù)據(jù)輸出，該設備有效助力企業(yè)提升芯片產品質量，縮短研發(fā)周期。

留言詢價

留言框

產品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細地址：
補充說明：
驗證碼：

請輸入計算結果（填寫阿拉伯數(shù)字），如：三加四=7

上一篇：SMA-80PF小型恒溫恒濕試驗箱包裝運輸環(huán)境模擬設備
下一篇：SMA-150PF大型恒溫恒濕試驗箱 ±2RH 濕度均勻性

大型恒溫恒濕試驗箱 芯片可靠性測試設備

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：

大型恒溫恒濕試驗箱芯片可靠性測試設備