電子元器件專用冷熱沖擊試驗箱

電子元器件專用冷熱沖擊試驗箱

一、 產品詳情與用途

本產品是專為電子元器件可靠性測試而設計的高精度環境模擬設備。它通過極快的速度在高溫和低溫兩種環境之間進行轉換，模擬元器件在運輸、存儲、啟動和運行過程中可能遭遇的劇烈溫度變化，從而加速暴露其潛在缺陷，如材料開裂、焊接點疲勞、性能漂移等，是評估產品可靠性與耐久性的關鍵設備。

二、 技術特點

1. 極速轉換：采用三箱式（預冷區、預熱區、測試區）或提籃式兩箱結構，轉換時間通常小于10秒，溫度恢復時間極短，確保測試嚴苛性。

2. 精準控溫：進口精密溫控儀與高性能傳感器，確保箱內溫度分布均勻，偏差小，測試結果準確可靠。

3. 高效制冷：采用法國泰康或德國比澤爾等品牌復疊式壓縮機制冷系統，確?？焖龠_到低溫并能長期穩定運行。

4. 人性化操作：大型彩色觸摸屏，圖形化界面，程序編輯簡單直觀，可存儲多組測試參數，并具備遠程監控功能。

5. 安全可靠：具備多重安全保護（超溫、過流、缺相、漏電等），高強度結構設計，確保設備與試件。

電子元器件專用冷熱沖擊試驗箱

三、 箱體結構與材質

• 內箱材質：采用SUS304#高級不銹鋼板，耐腐蝕、耐高低溫，易于清潔。

• 外箱材質：優質冷軋鋼板經防銹處理后噴涂，外觀美觀且堅固耐用。

• 保溫層：高強度聚氨酯發泡，保溫性能，有效減少能耗并防止箱體外壁凝露。

• 密封設計：高性能硅橡膠密封條，確保測試區氣密性，防止溫度泄漏。

四、 技術參數

• 溫度范圍：高溫箱：+60℃ ~ +200℃；低溫箱：-10℃ ~ -65℃

• 轉換時間：＜10秒（從高溫到低溫或反之）

• 溫度恢復時間：＜5分鐘（恢復至設定溫度）

• 內箱尺寸：可根據需求定制（如40*40*40cm, 50*50*50cm等）

• 溫度波動度：±0.5℃

• 溫度均勻度：±2.0℃

• 冷卻方式：風冷（或水冷）

• 符合標準：GB/T 2423.1、GB/T 2423.2、GJB 150.5等國內外測試標準。

五、 應用場景與領域

本設備廣泛應用于所有需要對電子元器件及組件進行質量驗證和可靠性篩選的場景：

• 半導體行業：IC集成電路、芯片、二極管、三極管的可靠性測試。

• 通信行業：5G模塊、光通信器件、路由器、交換機內部元器件的品質評估。

• 汽車電子：發動機控制單元(ECU)、傳感器、車載顯示屏在溫度下的性能測試。

• 消費電子：手機、筆記本電腦、平板電腦的PCB板、BGA封裝、電容、電阻的失效分析。