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Cassification
產品展示/ Product display
冷熱沖擊試驗箱 芯片可靠性環境測試設備專為芯片可靠性測試設計的冷熱沖擊試驗箱,采用三箱式獨立控溫結構,可精準模擬 - 70℃至 150℃溫度環境,快速實現高溫區、低溫區與測試區的冷熱轉換,滿足芯片在不同溫度條件下的可靠性檢測需求。箱體采用高強度不銹鋼材質,具備良好的耐腐蝕性與密封性,確保測試環境穩定,同時配備 7 寸觸摸屏智能操控系統,操作便捷直觀。
聯系電話:0769-81085056
冷熱沖擊試驗箱 芯片可靠性環境測試設備
一、產品詳情
冷熱沖擊試驗箱 芯片可靠性環境測試設備
二、工作原理
快速溫變:溫變速率高達 15℃/min,大幅縮短測試周期,提升檢測效率。
精準控溫:溫度波動度 ±0.5℃,均勻度 ±2℃,確保測試結果的準確性與一致性。
多段編程:支持自定義多段溫度循環程序,靈活適配不同芯片測試標準。
安全防護:具備超溫保護、漏電保護等多重安全機制,保障設備與人員安全。
四、應用場景
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聯系郵箱:1835382008@qq.com
公司地址:廣東省東莞市常平鎮常平中信路101號1號樓102室
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