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Cassification
節能三箱式冷熱沖擊試驗箱 長期可用專為滿足高耗能測試場景下的降本增效需求而研發,通過創新節能技術與長效穩定設計,實現能耗降低 30%、設備使用壽命延長 50% 的雙重突破。該設備通過快速模擬 - 70℃至 150℃溫度交替環境,為電子、新能源、航空航天等行業提供高效、環保的產品可靠性測試解決方案。
2025-08-17
TSD-80F-3P
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兩廂式冷熱沖擊試驗箱 自定義循環曲線專為復雜環境模擬測試需求打造,以創新雙腔獨立控溫結構與自定義循環曲線功能為核心,實現 - 60℃至 180℃溫域的快速切換與精準控制。設備可根據不同行業、不同產品的測試標準,自由設定溫度循環次數、保持時間、溫變速率等參數,為電子、汽車等領域提供高度靈活、高效精準的可靠性測試解決方案。
2025-08-17
TSD-80F-2P
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TSD系列兩箱氣體式高低溫交變試驗機 適用于電工、電子、儀器儀表及其它產品、零部件及材料在高低溫環境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗;是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設備。
2025-08-17
TSD-252F-2P
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液體式冷熱沖擊試驗箱 長時間連續運行穩定專為嚴苛環境測試需求打造,采用液體介質控溫技術,可在極短時間內實現高溫與低溫環境的快速切換,模擬產品在溫度變化下的性能表現。該設備具備長時間連續運行穩定的特性,能滿足科研、生產等多場景下的高頻次、高強度測試需求,為電子、航空航天、新能源等行業提供可靠的產品質量驗證方案。
2025-08-17
TSD-100F-2P
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半導體芯片高低溫冷熱沖擊試驗箱是專為半導體芯片、集成電路(IC)、封裝模塊等電子元器件的可靠性測試而設計的高精密環境試驗設備。它通過模擬產品在高低溫瞬間變化的環境下的耐受能力,快速暴露其因材料不匹配、焊接疲勞、結構缺陷等問題引起的潛在失效,是確保芯片產品質量與可靠性的關鍵檢測工具。
2025-08-29
TSD-100F-2P
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電子元器件專用冷熱沖擊試驗箱是專為電子元器件可靠性測試而設計的高精度環境模擬設備。它通過極快的速度在高溫和低溫兩種環境之間進行轉換,模擬元器件在運輸、存儲、啟動和運行過程中可能遭遇的劇烈溫度變化,從而加速暴露其潛在缺陷,如材料開裂、焊接點疲勞、性能漂移等,是評估產品可靠性與耐久性的關鍵設備。
2025-09-03
TSD-36F-2P
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高效節能冷熱沖擊試驗箱是專為測試電子產品、元器件、材料及工業產品在瞬間經歷高溫和極低溫變化后的耐受性而設計的精密環境試驗設備。其核心在于模擬嚴苛溫度沖擊環境,以驗證產品的可靠性、穩定性和潛在缺陷,是提升產品質量的關鍵裝備。
2025-09-03
TSD-36F-2P
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多段編程冷熱沖擊試驗箱 支持復雜測試流程是一款精密的環境可靠性測試設備,專為模擬溫度變化環境而設計。其核心優勢在于搭載了多段可編程控制器,用戶可預先設置多達數十個甚至上百個測試步驟,精確控制每個階段的溫度、停留時間和循環次數,以復現各種復雜、嚴苛的溫度沖擊場景,為產品質量驗證提供測試靈活性。
2025-09-03
TSD-100F-2P
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